La Sekundara Bilda Apartiga Testsistemo - Laboratoria versio
La Sekundara Bilda Apartiga Testsistemo estas sendependa mezursistemo, kiu efektivigas la detekton de bilda apartigo en la kameraareo kaj aliaj areoj de la vitro.
La Sistemo por Testado de Sekundara Bilda Apartigo - Laboratoria versio povas testi la valoron de la sekundara bilda apartigo de dediĉitaj punktoj ĉe malsamaj vidanguloj laŭ la specifita instalangulo kun gvido de vidsistemo. La sistemo povas montri alarmon pri superlimo, registri, presi, konservi kaj eksporti la testrezulton.
Specimenoj
Specimena grandeco: 1,9 * 1,6 m / 1,0 * 0,8 m (personigita)
Specimena ŝarĝa angula gamo: 15°~75° (Specimena grandeco, ŝarĝa angula gamo, mezura gamo kaj mekanika sistema mova gamo povas esti adaptitaj laŭ postuloj.)
Vidangulo-intervalo: Horizontala angulo - 15°~15°, Vertikala angulo - 10°~10° (personecigita)
Elfaro
Ripeteblo de unupunkta testo: 0,4' (la angulo de sekundara bildo <4'), 10% (4'≤ la angulo de sekundara bildo <8'), 15% (la angulo de sekundara bildo ≥8')
Specimena ŝarĝangulo: 15°~75° (personigita)
La Sekundara Bilda Apartiga TestsistemoParametroj
| Mezurintervalo: 80' * 60' Minimuma valoro: 2' Rezolucio：0.1' | Lumfonto: Lasero Ondolongo: 532nm Potenco: <20mw |
VisionSsistemoParametroj
| Mezurintervalo: 1000mm * 1000mm | Pozicia precizeco: 1mm |
Mekanikaj Sistemparametroj (personecigitaj)
| Specimena grandeco: 1,9 * 1,6 m / 1,0 * 0,8 m; Specimena fiksa metodo: supraj 2 punktoj, malsupraj 2 punktoj, akssimetria. Bazo de la instala angulo: la ebeno formita de kvar fiksaj punktoj de la specimeno Specimena ŝarĝa angulo-alĝustiga gamo: 15°~75° | X: la horizontala direkto Z: la vertikala direkto X-direkta distanco: 1000mm Z-direkta distanco: 1000mm Maks. traduka rapido: 50mm/sekundo Traduka poziciiga precizeco: 0.1mm |
